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  • BeamCheck增材制造專用激光分析系統

    增材制造專用激光分析系統 集成CCD 光束分析儀直接探測高功率激光的光斑,以及一臺功率計用于實時監測測量激光的功率。特殊的分束系統使其可以直接用于高功率激光,極小部分功率被分配給光束分析儀進行光斑分析

    更新時間:2025-03-21
    型號:BeamCheck
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  • BeamWatch非接觸式大功率激光焦點分析儀

    非接觸式大功率激光焦點分析儀 OPHIR*的BeamWatch 非接觸式輪廓分析儀通過測量瑞利散射,精確捕獲和分析波長范圍為980nm - 1080nm 的高功率工業激光。

    更新時間:2025-03-21
    型號:BeamWatch
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  • BeamSquared激光全自動M2分析儀

    激光全自動M2分析儀 BeamSquared 包含自動衰減器、束腰生成鏡、反射鏡和相機四大部分。精密準直的雙程直線掃描光路提供在較短空間內的長行程快速掃描,配合不同的透鏡、探測器覆蓋寬范圍的波段。

    更新時間:2025-03-21
    型號:BeamSquared
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  • 狹縫掃描光束分析儀NanoScan 2

    狹縫掃描光束分析儀NanoScan 2, 源自2010 年加入OPHIR 集團的PHOTON INC。PHOTON INC 自1984 年開始研發生產掃描式光束分析儀,在光通訊、LD/LED 測試等領域享有盛名。掃描式與相機式光斑分析儀的互補聯合使得OPHIR可提供完備的光束分析解決方案

    更新時間:2025-03-21
    型號:
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  • ND Filter衰減器

    衰減器 可變衰減片采用兩片漸變式中性密度濾光片,在衰減率可連續調節的同時,確保通光孔徑內衰減率均勻分布。

    更新時間:2025-03-21
    型號:ND Filter
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  • LBS-300衰減組合(分光+ 衰減)

    LBS-300衰減組合(分光+ 衰減) 組合式衰減器集成了分光器和可變中型密度濾光片,可直接旋接在相機上使用。

    更新時間:2025-03-21
    型號:
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